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低介电常数雷达物位计
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更新时间:2023-10-13  |  阅读:936

详情介绍

低介电常数雷达物位计天线发射极窄的微波脉冲,这个脉冲以光速在空间传播,碰到被测介质表面,其部分能量被反射回来,被同一天线接收。发射脉冲与接收脉冲的时间间隔与天线被测介质表面的距离成正比。由于电磁波的传播速度*,发射脉冲与接受脉冲的时间间隔很小(纳秒量级)很难确认。CDRD50系列雷达物位计采用一种特殊的相关解调技术,可以准确识别发射脉冲与接收脉冲的时间隔,从而进一步计算出天线到被测介质表面的距离。

低介电常数雷达物位计特  点
由于采用了*微波处理器和*的EchoDiscovery回波处理技术,导波雷达物位计可以应用于各种复杂工况。
“虚假回波学习”功能使得仪表在多个虚假回波的工况下,可正确地确认真实回波,获得准确的测量结果。
多种过程连接方式及天线型式,使得CDRD50系列雷达物位计适用于各种复杂工况及应用场合。如:高温、高压及小介电常数介质的测量等。
采用脉冲工作方式,雷达物位计发射功率极低,可安装于各种金属、非金属容器内,对人体及环境均无伤害。

应用: 存储容器或过程容器,复杂过程条件
zui大量程:70m
测量精度:±20mm
过程连接:法兰316L
天线材料:不锈钢316L/PTFE
过程温度:-40~200℃
过程压力:-1.0~40bar
频率范围:6GHz
信号输出:两线制/四线制4~20mA /HART
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